低气压下长串绝缘子的直流污闪特性

被引:28
作者
张志劲
蒋兴良
孙才新
胡建林
机构
[1] 重庆大学输配电装备及系统安全与新技术国家重点实验室
关键词
高电压与绝缘技术; 低气压; 长串; 直流电压; 污秽绝缘子; 闪络特性;
D O I
10.13336/j.1003-6520.hve.2009.02.010
中图分类号
TM855 [绝缘的试验与检查];
学科分类号
摘要
为了解污秽和高海拔对正在建设的云广±800kV直流特高压线路外绝缘面临的综合影响,利用大型多功能人工气候室进行了低气压下XZP-210绝缘子长串直流污秽闪络特性试验研究,确定了利用人工气候室模拟高海拔进行污闪试验的方法。研究表明:海拔232m~3km且盐密为0.03~0.15mg/cm2时,XZP-210绝缘子直流污闪电压与串长呈线性关系;绝缘子直流污秽闪络电压与污秽满足负幂指数函数关系,其污秽影响特征指数b值为0.337~0.352,且受气压的影响;直流污秽绝缘子闪络电压随气压的降低而降低,其气压影响特征指数n为0.35~0.42,且污秽越重,n值越小。
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