基于CCD的光学测角精度检测方法

测角精度是光电系统中一项重要的技术指标,通常是以校准塔和方位标为基准进行误差标定。本文阐述了一种基于CCD成像的检测光学系统测角精度的方法。利用经纬仪电十字的图像处理结果与经纬仪的测角真值作比较,验证光学系统的测角精度,采用投影法和二项式曲线拟合相结合的算法,使定位精度达到亚像素级。试验结果表明该方法具有标校过程简单、快速,标校精度高等优点,其标定误差小于1″。