从1149.1标准到1149.7标准分析边界扫描技术的发展

被引：14

作者：

陈星 ^{[1
]}

黄考利 ^{[2
]}

连光耀 ^{[1
]}

刘晓芹 ^{[1
]}

机构：

[1] 军械工程学院

[2] 军械技术研究所

来源：

计算机测量与控制 | 2009年 / 17卷 / 08期

关键词：

IEEE1149.X; 边界扫描; 测试性设计;

D O I：

10.16526/j.cnki.11-4762/tp.2009.08.014

中图分类号：

TN407 [测试和检验];

学科分类号：

080903 ; 1401 ;

摘要：

边界扫描技术是一种应用于集成电路的测试性结构设计方法,其主要优点在于用极少的电路引脚解决了极为复杂的电路测试问题;伴随着边界扫描技术的发展,已经具有IEEE1149.1、IEEEIEEE1149.4、IEEE1149.5、IEEE1149.6等多个标准,它们所提供的解决方案极大地方便了芯片级、板级、系统级及数字网络的测试;文中对边界扫描的多个协议标准进行了介绍和分析,着重讨论了各个标准的体系结构及功能,最后介绍了边界扫描技术面临的挑战及今后的发展方向。

引用

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