基于灰关联熵的模拟电路测试点优选算法

被引：18

作者：

黄亮

侯建军

刘颖

李赵红

机构：

[1] 北京交通大学电子信息工程学院

来源：

电子测量与仪器学报 | 2009年 / 23卷 / 09期

基金：

北京市自然科学基金;

关键词：

测试点; 灰关联熵; 故障诊断; 灰关联分析; 模拟电路;

D O I：

暂无

中图分类号：

TN710 [电子电路];

学科分类号：

080902 ;

摘要：

选择最佳测试点是电路故障诊断的重要课题。将模拟电路看作灰色系统,对模拟电路进行灰关联熵分析,利用灰熵关联度量化测试点与故障元件之间的关联程度,从而得到故障诊断的最佳测试点。通过两个典型电路的实例表明,将灰关联熵分析用于测试点优选,具有算法简单、所需样本少、结果明确等优点,保证了测试点选择的客观性。

引用

页码：27 / 32

页数：6

共 5 条

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刘颖 ;

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