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AOI检测系统光照不均的校正方法研究
被引:9
作者
:
张纪铃
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机构:
西北工业大学电子信息学院
张纪铃
冯晓毅
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西北工业大学电子信息学院
冯晓毅
夏超
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机构:
西北工业大学电子信息学院
夏超
机构
:
[1]
西北工业大学电子信息学院
来源
:
电子测量技术
|
2007年
/ 07期
关键词
:
AOI;
PCBA;
同态滤波;
小波变换;
D O I
:
10.19651/j.cnki.emt.2007.07.007
中图分类号
:
TN407 [测试和检验];
学科分类号
:
摘要
:
针对电子组装业自动光学检测(automatic optical inspection,AOI)系统光照不均情况,分析了背景去除法、传统同态滤波法2种校正方法,并将一种改进的基于小波变换的同态滤波方法应用于该领域。该方法对目标图像进行多层小波分解,对各层高低频系数滤波处理,减弱低频系数,增强高频系数,然后进行小波重构,从而达到光照不均校正的目的。然后取PCBA(printed circuit board assembly)图像进行了3种方法的实验对比,结果证明了改进的基于小波变换的同态滤波方法在AOI系统中具有很强的实用性。
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