基于遗传算法的模拟电路故障诊断激励优化

被引：3

作者：

殷时蓉

陈光

谢永乐

机构：

[1] 电子科技大学自动化工程学院CAT室

来源：

测控技术 | 2007年 / 06期

关键词：

遗传算法; 模拟电路; 故障诊断;

D O I：

10.19708/j.ckjs.2007.06.007

中图分类号：

TN710 [电子电路];

学科分类号：

摘要：

介绍了用改进的遗传算法优化激励信号的参数。仿真实验表明,经过优化后的激励信号能大大提高模拟电路的故障诊断效率,对线性和非线性模拟电路都适用。

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页数：3

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