红外探测系统自身热辐射杂散光的分析

被引：34

作者：

牛金星 ^{[1
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周仁魁 ^{[1
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刘朝晖 ^{[1
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杨建国 ^{[1
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蔡占恩 ^{[1
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林福跳 ^{[1
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机构：

[1] 中国科学院西安光学精密机械研究所

[2] 华北水利水电学院机械系

[3] 中国科学院研究生院

来源：

光学学报 | 2010年 / 30卷 / 08期

关键词：

红外探测; 杂散光; TracePro软件; 热辐射; 里奇-克雷季昂系统;

D O I：

暂无

中图分类号：

TN215 [红外探测、红外探测器];

学科分类号：

0803 ; 080401 ; 080901 ;

摘要：

设计了Ritchey-Chretien（R-C）型红外探测系统及其遮光罩,运用软件TracePro建立了结构模型,通过光线追迹分析了系统的几个关键内表面自身热辐射杂散光。给出了温度范围为250K320K时,几个关键内表面热辐射产生的杂散光光子数随温度变化的关系。计算了天空背景的杂散光,同时给出了单像元接收到的杂散光光子数增加的速率随温度变化的关系。分析结果表明,常温下使用没有主镜筒的开架式望远镜结构对减小杂散光的效果并不明显。如果要实现背景限探测,系统主镜内遮光罩的温度至少降低至230K。

引用

页码：2267 / 2271

页数：5

共 11 条

[1] 强噪声背景红外微弱动目标集成检测 [J].