染污绝缘子串直流污闪放电模型及验证

被引：16

作者：

张志劲

蒋兴良

孙才新

胡建林

苑吉河

机构：

[1] 重庆大学输配电装备及系统安全与新技术国家重点实验室

来源：

电工技术学报 | 2009年 / 24卷 / 04期

关键词：

直流; 绝缘子串; 污闪模型; 泄漏电流;

D O I：

10.19595/j.cnki.1000-6753.tces.2009.04.006

中图分类号：

TM216 [绝缘子和套管];

学科分类号：

摘要：

绝缘子污秽闪络事故严重威胁电力系统的安全可靠运行,目前国内外对污闪机理的研究主要是以平板模型为基础。本文以7片串XP-160绝缘子为例,开展染污绝缘子串直流污闪放电模型研究。提出染污绝缘子串直流放电过程的电路模型是由剩余污层电阻、沿面电弧和空气间隙电弧串联组成;根据模型计算所得的临界污闪电压与实测值的误差在7%以内;得到泄漏电流大于200mA时,染污绝缘子串局部电弧的综合受力中热浮力起主导作用,解释了局部电弧发展中存在飘弧现象的原因。

引用

页码：36 / 41

页数：6

共 8 条

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