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边界扫描技术的优化设计
被引:4
作者:
陈晓梅
孟晓风
钟波
季宏
机构:
[1] 北京航空航天大学仪器科学与光电工程学院
来源:
关键词:
边界扫描技术;
优化设计;
综合优化设计;
D O I:
10.19651/j.cnki.emt.2006.03.001
中图分类号:
TN402 [设计];
学科分类号:
080903 ;
1401 ;
摘要:
边界扫描技术是工业领域可测性设计的主流技术。对其进行优化设计,可以缩短测试施加时间,提高故障诊断率。本文从其本身的优化设计以及与其他DFT技术相结合的综合优化设计两个角度详细论述了基于边界扫描的优化设计问题,对该领域的进一步深入研究具有重要的理论价值和实践价值。
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