基于机器微视觉的微结构平面运动测试技术

被引:4
作者
金翠云
靳世久
栗大超
冯亚林
郝一龙
机构
[1] 天津大学精密测试技术及仪器国家重点实验室
[2] 北京大学微电子学研究院
关键词
微机电系统; 机器微视觉; 动态测试; 模糊图像; 光学检测; 亚像素;
D O I
暂无
中图分类号
TH703 [结构];
学科分类号
摘要
为了对MEMS的微结构平面运动特性参数进行提取和分析,基于机器微视觉构建MEMS动态测试系统,提出模糊图像合成技术.在连续光照明下获取微结构运动图像,利用光学检测方法增强模糊特征带,引入亚像素定位技术提取特征结构边缘,最终获得微结构的平面运动特性参数.实验结果表明,该系统测量误差小于100nm,具有较好的测量重复性精度.与现有系统相比,该系统测量原理简单,实现方便,且能满足微结构的测试需求.
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