机内测试技术发展趋势分析

被引：17

作者：

徐永成

温熙森

易晓山

刘冠军

机构：

[1] 国防科技大学机电工程与自动化学院!湖南长沙

来源：

测控技术 | 2001年 / 08期

关键词：

机内测试; 故障诊断; 自动测试设备; 智能理论;

D O I：

10.19708/j.ckjs.2001.08.001

中图分类号：

TJ06 [测试技术及设施];

学科分类号：

0826 ;

摘要：

近 2 0年来 ,机内测试 (BIT ,Built InTest)技术从理论到应用取得了显著进展 ,已成为提高复杂系统测试性、维修性的有效途径 ,并大量应用于大型军用装备、航空航天系统当中 ,应用范围正进一步扩展到民用大型复杂设备。本文从BIT与ATE的日渐融合、机电BIT发展方向、BIT发展为集状态监控、故障诊断、控制决策于一体的综合系统、智能理论与技术在BIT中的应用等 4个方面详细分析了BIT理论与技术的发展趋势 ,对我国相关领域特别是军事工业领域BIT的深入研究与应用具有一定参考价值

引用

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共 5 条

[1] 智能理论在BIT设计与故障诊断中的应用 [J].