NMDA损伤及MK-801保护作用后原代培养神经元膜AFM形貌对比研究

目的 对比观察正常培养、NMDA损伤及MK-801保护皮层神经元膜表面三维构象形貌改变。方法 分别应用光镜、扫描电镜和分辨率为0.1～0.01nm的原子力显微镜(atomic force microscope,AFM)对戊二醛固定的正常原代培养大鼠皮层神经细胞膜,NMDA损伤及MK-801保护后神经元膜表面进行纳米尺度的扫描观测,结果进行比较。结果 正常神经元膜表面光滑,起伏均匀,隆起的颗粒状蛋白密集,间隔规律。NMDA损伤后神经元破碎,崩解,膜失去连续性,颗粒蛋白质聚集成大的隆起。脂质凹陷加深,间距增宽,可见空穴状凹陷。MK-801保护作用神经元膜皱折增加,边缘粗糙,起伏程度介于前两者之间。结论 (1)AFM分辨率高,制样简单,可对活的或固定的生物样品在自然条件下进行直接观测。(2)AFM较SEM能更细微地分辩损伤保护作用后引起的细胞膜表面三维形貌改变并可以做出定量分析。(3)NMDA作用后膜结构开始解体,膜蛋白颗粒聚集增大,脂质凹陷加深,间距增宽,表面粗糙度增加。(4)对于AFM应用于生物样品的检测,还应该在制样,提高观测分辩率,增加标记物等方面做进一步研究。