用改进的静电探头测量绝缘子表面电荷

被引：4

作者：

汪沨

张乔根

罗毅

邱毓昌

机构：

[1] 西安交通大学电气工程学院

[2] 西安交通大学电气工程学院陕西西安

[3] 陕西西安

来源：

传感器技术 | 2002年 / 04期

关键词：

表面电荷; 测量; 探头;

D O I：

10.13873/j.1000-97872002.04.006

中图分类号：

TM855 [绝缘的试验与检查];

学科分类号：

080803 ;

摘要：

设计了用于绝缘子表面静电荷的测量装置。得到了圆柱型绝缘子的表面电荷分布图。实验研究表明设计的电荷测量装置具有分辨力高、电荷泄漏少的优点。

引用

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共 1 条

[1] 冲击电压作用下影响表面电荷积聚过程的因素分析 [J].

汪沨 ;

邱毓昌 ;

张乔根 ;

陈庆国 .

电工技术学报, 2001, (05) :51-54+10