冲击电压作用下影响表面电荷积聚过程的因素分析

被引：17

作者：

汪沨

邱毓昌

张乔根

陈庆国

机构：

[1] 西安交通大学

来源：

关键词：

绝缘子; 表面电荷; 电荷积聚; 冲击电压;

D O I：

10.19595/j.cnki.1000-6753.tces.2001.05.011

中图分类号：

TM216 [绝缘子和套管];

学科分类号：

摘要：

建立了电压与表面电荷分布的动态方程 ,引入了电荷积聚时间常数的概念。从理论上证明了冲击电压作用下绝缘子表面可以产生一定量的电荷积聚 ,并对影响表面电荷积聚过程的因素进行了分析 ,理论分析结果得到了已往文献实验结果的证实。

引用

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