专利计量指标研究述评

被引：35

作者：

高继平

丁堃

机构：

[1] 大连理工大学世纪发展研究中心暨WISE实验室

来源：

图书情报工作 | 2011年 / 20期

关键词：

专利计量; 指标; 计算方法; 表征意义;

D O I：

暂无

中图分类号：

G353.1 [情报资料的分析和研究];

学科分类号：

摘要：

就当前国内外主要的专利计量指标,从适用性的角度将其划分为宏观、中观和微观三个层次,并就其计算方法和表征意义进行详细介绍。通过分析发现,专利指标主要从量、率和质的角度,体现宏观技术领域、中观具体企业和微观专利文献方面的差异。最后,对当前专利计量指标应用过程中存在的一些问题进行探讨,尤其是对我国专利计量中存在的一些独特问题进行较为深入的剖解,希望可以对相关政策制定和产业布局规划提供一定的参考。

引用

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页数：4

共 6 条

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