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一种考虑缺陷关联的软件可靠性增长模型
被引:4
作者:
张荣辉
姜楠
勾朗
车美儒
舒风笛
机构:
[1] 中国科学院软件研究所互联网软件技术实验室
来源:
关键词:
软件可靠性增长模型;
非齐次泊松过程;
软件缺陷关联;
D O I:
暂无
中图分类号:
TP311.52 [];
学科分类号:
摘要:
非齐次泊松过程类软件可靠性增长模型(NHPP-SRGMs)是评价软件产品可靠性指标的有效工具,但大多数该类模型都未考虑软件缺陷关联这一测试过程中普遍存在的现象。该文在考虑软件缺陷关联关系的基础上对缺陷进行分类,提出一个改进的NHPP类软件可靠性增长模型。在一组失效数据上的实验分析表明,改进的模型具有较好的拟合效果和预测能力。
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