IBIS-S测量系统及精度分析

被引：4

作者：

占朝彬 ^{[1
]}

胡玉梅 ^{[1
]}

王涛 ^{[2
]}

机构：

[1] 成都市勘察测绘研究院

[2] 武汉大学测绘学院

来源：

城市勘测 | 2015年 / 02期

关键词：

IBIS-S; 干涉测量; 精度分析;

D O I：

暂无

中图分类号：

P225.3 [微波测距];

学科分类号：

摘要：

微波干涉测量技术逐渐成为对大型建筑物进行"非接触式"监测的重要手段之一。本文以IBIS-S系统为例,介绍了微波干涉测量的关键技术,并对系统的精度进行了测试。测试结果表明:该系统的测量精度能够达到亚毫米级,能够实现高精度的微变形监测。

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页数：3

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