精密测头技术的演变与发展趋势

被引:40
作者
石照耀
韦志会
机构
[1] 北京工业大学
基金
北京市自然科学基金;
关键词
测头; 精密测量; 精密量仪; 三坐标测量机;
D O I
10.16567/j.cnki.1000-7008.2007.02.001
中图分类号
TH703 [结构];
学科分类号
摘要
本文从历史发展角度考察了精密测头技术的发展,分析了触发式测头、扫描式测头和非接触式光学测头的特点和应用范围,给出了最新测头案例,并对市场上存在的几种测头进行了性能比较,最后论述了精密测头技术的发展趋势。高精度、高效率、高集成化、多功能、数字化以及发展非接触测头是今后精密测头的发展方向。
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