用国产WP-G型高频等离子体——一米光栅摄谱仪直接测定高纯氧化钇中十四个稀土杂质

被引：7

作者：

江祖成

陈浩

许廉发

廖振环

张书秀

机构：

[1] 武汉大学化学系

[2] 江西昌隆稀土冶炼厂

来源：

分析试验室 | 1988年 / 01期

关键词：

稀土杂质; 稀土元素; 高纯氧; 高频等离子体; 检出限; ⅢB族元素; WP1-G; 光栅摄谱仪; 浓度值; 共存元素; 基体效应; 基体元素; 光谱干扰;

D O I：

10.13595/j.cnki.issn1000-0720.1988.0011

中图分类号：

学科分类号：

摘要：

本文采用正交设计试验法对ICP工作参数进行了最佳选择;对基体钇和共存稀土元素的光谱干扰及基体效应作了详细考察,提出了方便可行的实验校正方法;此外,加入适量的乙醇可以在一定程度上改善方法的检出限。在最佳实验条件下,本法测定稀土元素的检出限在0.0019—0.15μg/mL范围,精密度在2.6—5.3％之间。可以满足99.9—99.99％氧化钇分析的要求,可作为氧化钇生产中质量控制的有效分析方法

引用

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