用失效机制模型对大型复杂产品进行失效模式影响分析

被引:1
作者
陈明 [1 ]
王国华 [2 ]
陈云 [3 ]
陈炳森 [1 ]
机构
[1] 同济大学中德工程学院
[2] 同济大学高等技术学院
[3] 上海财经大学公共经济和管理学院
关键词
失效模式; 失效模式影响分析; 产品研发;
D O I
暂无
中图分类号
TB472 [产品设计];
学科分类号
摘要
为了有效地降低新产品研发的风险,提高产品可靠性,必须进行失效模式分析,但大型复杂产品的系统复杂性,给全面分析失效模式的影响和原因带来困难。文章从产品的用户需求出发,对产品的功能进行分析,并从产品结构中找出失效的原因,建立了失效机制模型。通过对微电子装备的研发进行分析,该模型能明显地克服产品研发中的风险。
引用
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共 2 条
[1]   复杂产品研发中的技术风险管理 [J].
陈明 ;
陈云 ;
陈炳森 .
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[2]   基于零部件的FMEA在光刻机研发中的应用 [J].
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电子工业专用设备, 2005, (02) :59-62