X频段精密电介质测量系统

被引:2
作者
倪尔瑚
张志鸿
施铁矛
机构
关键词
电介质测量; 微波测量; 谐振腔;
D O I
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中图分类号
学科分类号
摘要
本文简要介绍在我们实验室建立的频率在8.2—12.4GHz的精密电介质测量系统,其中较详细论述了设计单模TE01n螺旋腔的原理性问题及结构。该系统可用频率调谐法或长度调谐法来测量。按我们已发表的计算方法,对固体材料测量结果的部分数据和相应的理论误差分析数据,分别用图、表给出,从分析中得出一些对电介质测量有实用价值的结论。 此外,也给出了用频率调谐法测得的螺旋波导在某些典型频率下对TE01模的衰减数据。
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共 1 条
[1]   在TE01模谐振腔中样品厚度对测量固体材料复介电系数的影响 [J].
倪尔瑚 .
浙江大学学报, 1984, (02) :118-128