激光衍射粒径测量中的Chin-Shifrin反演算法

被引：2

作者：

杨福桂 ^{[1
,2
]}

王安廷 ^{[1
]}

明海 ^{[1
]}

徐胜利 ^{[2
]}

机构：

[1] 中国科学技术大学光学与光学工程系

[2] 中国科学技术大学近代力学系

来源：

光学精密工程 | 2011年 / 02期

关键词：

Fraunhofer衍射; Mie散射; 反演算法; 粒径分布; 线阵CCD;

D O I：

暂无

中图分类号：

TN241 [激光物理和基本理论];

学科分类号：

0702 ; 070207 ;

摘要：

建立了以线阵CCD作为探测组件的激光衍射粒径测量系统用于颗粒群直径分布的测量。在数值计算的基础上,分析了传统Chin-Shifrin积分变换粒径分布反演算法存在的两个问题:小粒径反演结果的发散和多假峰现象,并结合理论分析给出了这两种现象的物理图像。提出了修正积分变换公式以解决小粒径反演结果发散的问题并针对Chin-Shifrin变换的具体应用,通过对比散射光强角分布特征,研究了Fraunhofer衍射对Mie散射近似的有效角度范围。计算结果显示,最大近似角度是随着粒径参数上升单调下降的,但积分变换的精度是不断提高的。最后,应用改进的Chin-Shifrin反演算法处理了实验测量数据,结果表明,改进的反演算法的精度较高,适合工业领域的应用。

引用

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