国内外飞速发展的热像无损检测技术

被引：24

作者：

张建合

郭广平

机构：

[1] 北京航空材料研究院无损检测研究室

[2] 北京航空材料研究院无损检测研究室北京

[3] 北京

来源：

无损探伤 | 2005年 / 01期

关键词：

红外热像; 脉冲热像; 调制加热; 发展趋势;

D O I：

暂无

中图分类号：

TH878 [无损探伤仪器];

学科分类号：

0804 ; 080401 ; 081102 ;

摘要：

对近年来国内外飞速发展的热像无损检测技术作一简要介绍 ,包括原理、方法和信号处理技术、应用范围以及发展趋势等 ,以促进该技术在国内的尽快发展。

引用

页码：1 / 4+26 +26

页数：5

共 8 条

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