基于MAM的白光OLED恒定应力加速寿命试验研究

被引：2

作者：

张建平 ^{[1
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刘宇 ^{[2
]}

成国梁 ^{[3
]}

朱文清 ^{[4
]}

刘芳 ^{[1
]}

机构：

[1] 上海电力学院能源与环境工程学院

[2] 中国科学院上海硅酸盐研究所

[3] 上海天逸电器有限公司

[4] 上海大学新型显示技术及应用集成教育部重点实验室

来源：

液晶与显示 | 2012年 / 27卷 / 01期

基金：

上海市自然科学基金;

关键词：

白光OLED; 加速寿命试验; 对数正态分布; MAM;

D O I：

暂无

中图分类号：

TN873.3 [];

学科分类号：

0810 ; 081001 ;

摘要：

为了短时间内获得白光有机发光显示器(OLED)的可靠性寿命信息,通过对其开展三组恒定电流应力加速寿命试验采集样品失效试验数据,应用对数正态分布函数描述白光OLED的寿命分布。在图分析法(MAM)的基础上,基于自行开发的寿命预测软件,绘制了对数正态概率双坐标纸,计算出白光OLED的平均寿命和中位寿命。数值结果表明,白光OLED寿命服从对数正态分布,加速寿命方程符合逆幂定律,精确计算的加速参数使得对其寿命的快速估算成为可能。结果可为生产厂商和用户提供参考和指导。

引用

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页数：5

共 11 条

[1] 多通道OLED器件寿命分析测试系统研制 [J].