基于饱和压降测量的功率模块老化模型研究

通过研究老化对功率模块IGBT状态参量的影响,提出一种基于功率模块IGBT的饱和压降测量的老化研究方法,即分别通过BP神经网络和支持向量机(SVM)对不同老化程度下、不同外电路条件下的饱和压降老化数据进行建模。建立老化模型可有效辨识IGBT模块内部老化程度,从而避免模块的完全失效及由此造成的装置损坏。