X射线荧光光谱法测定多种铁矿和硅酸盐中主次量组分

被引：57

作者：

欧阳伦熬

机构：

[1] 紫金矿业集团股份有限公司实验室福建上杭

来源：

岩矿测试 | 2005年 / 04期

关键词：

铁矿; 硅酸盐; X射线荧光光谱; 基体效应校正;

D O I：

10.15898/j.cnki.11-2131/td.2005.04.015

中图分类号：

O657.34 [Ｘ射线荧光分析法];

学科分类号：

070302 ; 081704 ;

摘要：

采用熔融玻璃法,用Axios型X射线荧光光谱仪测定铁矿和硅酸盐中Fe2O3、SiO2、A l2O3、TiO2、CaO、MgO、SO3、MnO、V2O5、K2O、P2O5、Na2O、Co和N i等组分含量。使用理论α系数和经验系数法校正基体效应,经标准物质检验,分析结果与标准值基本吻合。用钒钛磁铁矿GBW 07225国家一级标准物质进行精密度试验,统计结果除K2O、P2O5、N i的RSD<15%,其余大多数组分的RSD<4.0%(n=12)。

引用

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