Finding fault with deep-submicron ICs

被引：12

作者：

Vallett, DP ^{[1
]}

Soden, JM ^{[1
]}

机构：

[1] SANDIA NATL LABS,ALBUQUERQUE,NM 87185

来源：

IEEE SPECTRUM | 1997年 / 34卷 / 10期

关键词：

D O I：

10.1109/6.625244

中图分类号：

TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];

学科分类号：

0808 ; 0809 ;

摘要：

[No abstract available]

引用

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页码：39 / 50

页数：12

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共 6 条

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