Process analysis and abnormal situation detection: From theory to practice

被引:114
作者
Kourti, T [1 ]
机构
[1] McMaster Univ, Dept Chem Engn, McMaster Adv Control Consortium, Hamilton, ON L8S 4L7, Canada
来源
IEEE CONTROL SYSTEMS MAGAZINE | 2002年 / 22卷 / 05期
关键词
D O I
10.1109/MCS.2002.1035214
中图分类号
TP [自动化技术、计算机技术];
学科分类号
0812 ;
摘要
[No abstract available]
引用
收藏
页码:10 / 25
页数:16
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共 56 条
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