Results of the project "silicon for mass unit and standard" (SIMUS)

被引：1

作者：

Alasia, F ^{[1
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Basile, G ^{[1
]}

D'Agostino, G ^{[1
]}

Peuto, A ^{[1
]}

Pettorruso, S ^{[1
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Becker, P ^{[1
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Bettin, H ^{[1
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Kuetgens, U ^{[1
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Stuempel, J ^{[1
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Valkiers, S ^{[1
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Taylor, P ^{[1
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De Biévre, P ^{[1
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Jensen, L ^{[1
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Servidori, M ^{[1
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Spirito, P ^{[1
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Zeni, L ^{[1
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Amato, G ^{[1
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Riemann, H ^{[1
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Haertwig, J ^{[1
]}

Von Ammon, W ^{[1
]}

机构：

[1] CNR, Ist Metrol G Colonnnetti, I-10135 Turin, Italy

来源：

2002 CONFERENCE ON PRECISION ELECTROMAGNETIC MEASUREMENTS, CONFERENCE DIGEST | 2002年

关键词：

D O I：

10.1109/CPEM.2002.1034969

中图分类号：

TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];

学科分类号：

0808 ; 0809 ;

摘要：

The structural and stoichiometric characterisations of Silicon crystals are reported to find the origin of a molar volume discrepancy. The target of reproducing this anomaly was achieved and an hypothesis is proposed.

引用

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