Quantitative yield and reliability projection from antenna test results - A case study

被引：10

作者：

Mason, PW ^{[1
]}

Cheung, KP ^{[1
]}

Hwang, DK ^{[1
]}

Creusen, M ^{[1
]}

Degraeve, R ^{[1
]}

Kaczer, B ^{[1
]}

机构：

[1] Lucent Technol, Bell Labs, Murray Hill, NJ USA

来源：

2000 SYMPOSIUM ON VLSI TECHNOLOGY, DIGEST OF TECHNICAL PAPERS | 2000年

关键词：

D O I：

10.1109/VLSIT.2000.852784

中图分类号：

TP3 [计算技术、计算机技术];

学科分类号：

0812 ;

摘要：

引用

页码：96 / 97

页数：2

共 3 条

[1] PLASMA-CHARGING DAMAGE - A PHYSICAL MODEL [J].

CHEUNG, KP ;

CHANG, CP .

Degraeve, R ;

Groeseneken, G ;

Bellens, R ;

Ogier, JL ;

Depas, M ;

Roussel, PJ ;

Maes, HE .

SHIN, H ;

HU, CM .