HIGH-RESOLUTION IMAGING WITH THE STIGMATIC ION-MICROSCOPE

被引：11

作者：

BERNIUS, MT ^{[1
]}

LING, YC ^{[1
]}

MORRISON, GH ^{[1
]}

机构：

[1] CORNELL UNIV,BAKER LAB CHEM,ITHACA,NY 14853

来源：

JOURNAL OF APPLIED PHYSICS | 1986年 / 60卷 / 06期

关键词：

D O I：

10.1063/1.337240

中图分类号：

O59 [应用物理学];

学科分类号：

摘要：

引用

页码：1904 / 1912

页数：9

共 18 条

[1]

[Anonymous], COMMUNICATION

[2]

BENNINGHOVEN A, 1986, SECONDARY ION MASS S

[3] DARK-FIELD STIGMATIC ION MICROSCOPY FOR STRUCTURAL CONTRAST ENHANCEMENT [J].

BERNIUS, MT ;

LING, YC ;

MORRISON, GH .

JOURNAL OF APPLIED PHYSICS, 1986, 59 (10) :3332-3338

[4] EVALUATION OF ION MICROSCOPIC SPATIAL-RESOLUTION AND IMAGE QUALITY [J].

BERNIUS, MT ;

LING, YC ;

MORRISON, GH .

ANALYTICAL CHEMISTRY, 1986, 58 (01) :94-101

[5]

BERNIUS MT, 1986, SECONDARY ION MASS S, P245

[6]

BERNIUS MT, UNPUB

[7] ENERGIEVERTEILUNG VON ELEKTRONEN, DIE DURCH IONEN UND ELEKTRONEN IN DURCHSTRAHLUNG AN DUNNEN FOLIEN AUSGELOST WERDEN [J].

DIETRICH, W ;

SEILER, H .

ZEITSCHRIFT FUR PHYSIK, 1960, 157 (05) :576-585

[8]

JACKSON JD, 1975, CLASSICAL ELECTRODYN, P127

[9]

LEPAREUR M, 1980, REV TECH THOMSON, V12, P225

[10]

LETA DP, 1986, SECONDARY ION MASS S, P232

← 1 2 →