ATOMIC AND MOLECULAR ION EMISSION FROM SILICA IN LASER MICROPROBE MASS ANALYSIS (LAMMA) - COMPARISON WITH SECONDARY ION MASS-SPECTROMETRY (SIMS) AND SPARK SOURCE-MASS SPECTROMETRY (SSMS)

被引：25

作者：

MICHIELS, E

CELIS, A

GIJBELS, R

机构：

来源：

INTERNATIONAL JOURNAL OF MASS SPECTROMETRY AND ION PROCESSES | 1983年 / 47卷 / JAN期

关键词：

D O I：

10.1016/0020-7381(83)87127-7

中图分类号：

O64 [物理化学（理论化学）、化学物理学]; O56 [分子物理学、原子物理学];

学科分类号：

070203 ; 070304 ; 081704 ; 1406 ;

摘要：

引用

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页数：4

共 6 条

[1] BOUVY G, 1972, ANALUSIS, V1, P15
[2] LASER-INDUCED CLUSTER-IONS FROM THIN FOILS OF METALS AND SEMICONDUCTORS
FURSTENAU, N
HILLENKAMP, F
[J]. INTERNATIONAL JOURNAL OF MASS SPECTROMETRY AND ION PROCESSES, 1981, 37 (02): : 135 - 151
[3] JOST B, 1982, Z NATURFORSCH A, V37, P18
[4] MICHIELS E, 1982, MICROBEAM ANAL 1982, P383
[5] EMPIRICAL FORMULA FOR CALCULATION OF SECONDARY ION YIELDS FROM OXIDIZED METAL-SURFACES AND METAL-OXIDES
PLOG, C
WIEDMANN, L
BENNINGHOVEN, A
[J]. SURFACE SCIENCE, 1977, 67 (02) : 565 - 580
[6] RICHTER CE, 1981, INT J MASS SPECTROM, V38, P21, DOI 10.1016/0020-7381(81)80016-2