SHORT-TERM AND LONG-TERM RELIABILITY OF NITRIDED OXIDE MISFETS

被引：38

作者：

KAGA, T ^{[1
]}

HAGIWARA, T ^{[1
]}

机构：

[1] HITACHI LTD,MUSASHI WORKS,KOKUBUNJI,TOKYO 185,JAPAN

来源：

IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRON DEVICES | 1988年 / 35卷 / 07期

关键词：

D O I：

10.1109/16.3347

中图分类号：

TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];

学科分类号：

0808 ; 0809 ;

摘要：

4

引用

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页码：929 / 934

页数：6

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共 4 条

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