FAULT AND ERROR MODELS FOR VLSI

被引：67

作者：

ABRAHAM, JA

FUCHS, WK

机构：

[1] UNIV ILLINOIS,DEPT COMP SCI,URBANA,IL 61801

[2] UNIV ILLINOIS,DEPT ELECT & COMP ENGN,URBANA,IL 61801

来源：

关键词：

D O I：

10.1109/PROC.1986.13528

中图分类号：

TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];

学科分类号：

0808 ; 0809 ;

摘要：

引用

页码：639 / 654

页数：16

共 87 条

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