EPITHERMAL EFFECTS IN POSITRON DEPTH PROFILING MEASUREMENTS

被引：37

作者：

BRITTON, DT ^{[1
]}

RICEEVANS, PC ^{[1
]}

EVANS, JH ^{[1
]}

机构：

[1] UKAEA,HARWELL LAB,DIV MAT DEV,HARWELL OX11 0RA,BERKS,ENGLAND

来源：

PHILOSOPHICAL MAGAZINE LETTERS | 1988年 / 57卷 / 03期

关键词：

D O I：

10.1080/09500838808203766

中图分类号：

T [工业技术];

学科分类号：

08 ;

摘要：

引用

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页码：165 / 169

页数：5

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共 14 条

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