IMPROVED VOLTAGE MEASUREMENT SYSTEM USING SCANNING ELECTRON-MICROSCOPE

被引：20

作者：

TEE, WJ ^{[1
]}

GOPINATH, A ^{[1
]}

机构：

[1] UNIV WALES,UNIV COLL N WALES,SCH ELECTR ENGN SCI,BANGOR LL57 2UW,GWYNEDD,WALES

来源：

关键词：

D O I：

10.1063/1.1135024

中图分类号：

TH7 [仪器、仪表];

学科分类号：

0804 ; 080401 ; 081102 ;

摘要：

引用

页码：350 / 355

页数：6

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共 5 条

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