INDUCTIVE FAULT ANALYSIS OF MOS INTEGRATED-CIRCUITS

被引：153

作者：

SHEN, JP

MALY, W

FERGUSON, FJ

机构：

来源：

IEEE DESIGN & TEST OF COMPUTERS | 1985年 / 2卷 / 06期

关键词：

D O I：

10.1109/MDT.1985.294793

中图分类号：

TP3 [计算技术、计算机技术];

学科分类号：

0812 ;

摘要：

引用

页码：13 / 26

页数：14

共 15 条

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