AUGER RECOMBINATION + IMPACT IONIZATION INVOLVING TRAPS IN SEMICONDUCTORS

被引:74
作者
LANDSBERG, PT
LAL, P
RHYSROBERTS, C
机构
来源
PROCEEDINGS OF THE PHYSICAL SOCIETY OF LONDON | 1964年 / 84卷 / 5426期
关键词
D O I
10.1088/0370-1328/84/6/311
中图分类号
O4 [物理学];
学科分类号
0702 ;
摘要
引用
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页码:915 / &
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