NOVEL TECHNIQUE FOR MOS PULSE CAPACITANCE MEASUREMENTS IN C(V) AND C(T) MODE

被引：6

作者：

BRAUNIG, D ^{[1
]}

RICHTER, G ^{[1
]}

机构：

[1] KERN FORSCH BERLIN GMBH HAHN MEITNER INST,BEREICH DATENVERARBEITUNG & ELEKTR,D-1000 BERLIN 39,BUNDES REPUBLIK

来源：

关键词：

D O I：

10.1063/1.1134619

中图分类号：

TH7 [仪器、仪表];

学科分类号：

0804 ; 080401 ; 081102 ;

摘要：

引用

页码：341 / 344

页数：4

共 7 条

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KLAUSMANN, E ;

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