DETERMINATION OF THE STRESS LEVEL IN GROWING NIO FILMS BY X-RAY-DIFFRACTION

被引：22

作者：

PIVIN, JC ^{[1
]}

MORVAN, J ^{[1
]}

MAIREY, D ^{[1
]}

MIGNOT, J ^{[1
]}

机构：

[1] ECOLE NATL SUPER MECAN & MICROTECH,MICROANAL SURFACES,F-25030 BESANCON,FRANCE

来源：

SCRIPTA METALLURGICA | 1983年 / 17卷 / 02期

关键词：

D O I：

10.1016/0036-9748(83)90095-9

中图分类号：

TF [冶金工业];

学科分类号：

0806 ;

摘要：

引用

页码：179 / 182

页数：4

共 9 条

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