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THE USE OF PEAK TO BACKGROUND RATIO IN QUANTITATIVE AUGER ANALYSIS
被引:12
作者
:
LANGERON, JP
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LANGERON, JP
MINEL, L
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MINEL, L
VIGNES, JL
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BOUQUET, S
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PELLERIN, F
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LORANG, G
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AILLOUD, P
LEHERICY, J
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LEHERICY, J
机构
:
来源
:
SOLID STATE COMMUNICATIONS
|
1984年
/ 49卷
/ 05期
关键词
:
D O I
:
10.1016/0038-1098(84)90652-5
中图分类号
:
O469 [凝聚态物理学];
学科分类号
:
070205 ;
摘要
:
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JANSSEN, AP
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UNIV SUSSEX,SCH MATH & PHYS SCI,BRIGHTON BN1 9QH,SUSSEX,ENGLAND
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JANSSEN, AP
HARLAND, CJ
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HARLAND, CJ
VENABLES, JA
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UNIV SUSSEX,SCH MATH & PHYS SCI,BRIGHTON BN1 9QH,SUSSEX,ENGLAND
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1977,
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CNRS,CTR ETUD CHIM MET,F-94400 VITRY SUR SEINE,FRANCE
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PONS, F
LEHERICY, J
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LANGERON, JP
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LANGERON, JP
[J].
SURFACE SCIENCE,
1977,
69
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PONS F, 1977, SURFACE SCI, V69, P564
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1982, HDB AUGER ELECTRON S
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[1]
BISHOP HE, 1982, APR AS C
[2]
BOUQUET S, 1983, VIDE COUCHES MINCE S, V215, P127
[3]
RATIO TECHNIQUE FOR MICRO-AUGER ANALYSIS
JANSSEN, AP
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VENABLES, JA
[J].
SURFACE SCIENCE,
1977,
62
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-
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[4]
LEHERICY J, 1981, ANALUSIS, V9, P188
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PONS, F
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CNRS,CTR ETUD CHIM MET,F-94400 VITRY SUR SEINE,FRANCE
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LEHERICY, J
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LANGERON, JP
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LANGERON, JP
[J].
SURFACE SCIENCE,
1977,
69
(02)
: 547
-
564
[6]
PONS F, 1977, SURFACE SCI, V69, P564
[7]
1982, HDB AUGER ELECTRON S
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