LOW FIELD MOBILITY IN GAAS ION-IMPLANTED FETS

被引:23
作者
LEE, K
SHUR, MS
LEE, K
VU, TT
ROBERTS, PCT
HELIX, MJ
机构
[1] HONEYWELL INC,CTR SYST & RES,MINNEAPOLIS,MN 55413
[2] HONEYWELL INC,CTR CORP TECHNOL,BLOOMINGTON,MN 55420
关键词
D O I
10.1109/T-ED.1984.21537
中图分类号
TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];
学科分类号
0808 ; 0809 ;
摘要
引用
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页码:390 / 393
页数:4
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共 13 条
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Van der Pauw L.J., 1958, PHILIPS TECH REV, V20, P220, DOI DOI 10.4236/JMP.2013.411179
[12]  
van Der Pauw L. J., 1958, PHILIPS RES REP, V13, P1
[13]   SERIES RESISTANCE EFFECTS IN SEMICONDUCTOR CV PROFILING [J].
WILEY, JD ;
MILLER, GL .
IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRON DEVICES, 1975, ED22 (05) :265-272