COMPARISON OF 2 UNIT COLD STANDBY RELIABILITY MODELS WITH 3 TYPES OF REPAIR FACILITIES

被引：26

作者：

MURARI, K

GOYAL, V

机构：

来源：

MICROELECTRONICS AND RELIABILITY | 1984年 / 24卷 / 01期

关键词：

D O I：

10.1016/0026-2714(84)90635-8

中图分类号：

TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];

学科分类号：

0808 ; 0809 ;

摘要：

引用

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页码：35 / 49

页数：15

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