DISPLACEMENT MEASUREMENT BY IMAGE-PROCESSED SPECKLE PATTERNS

被引：12

作者：

HOFLING, R ^{[1
]}

OSTEN, W ^{[1
]}

机构：

[1] ACAD SCI GDR,CENT INST CYBERNET & INFORMAT PROC,DDR-1086 BERLIN,GER DEM REP

来源：

关键词：

D O I：

10.1080/09500348714550631

中图分类号：

O43 [光学];

学科分类号：

070207 ; 0803 ;

摘要：

引用

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页数：11