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DIRECT SILICIDATION OF CO ON SI BY RAPID THERMAL ANNEALING
被引:34
作者
:
TABASKY, M
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机构:
PEAK SYST INC, TECHNOL, FREMONT, CA 94538 USA
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TABASKY, M
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]
BULAT, ES
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PEAK SYST INC, TECHNOL, FREMONT, CA 94538 USA
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BULAT, ES
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DITCHEK, BM
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PEAK SYST INC, TECHNOL, FREMONT, CA 94538 USA
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DITCHEK, BM
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SULLIVAN, MA
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SULLIVAN, MA
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SHATAS, SC
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PEAK SYST INC, TECHNOL, FREMONT, CA 94538 USA
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SHATAS, SC
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机构
:
[1]
PEAK SYST INC, TECHNOL, FREMONT, CA 94538 USA
来源
:
IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRON DEVICES
|
1987年
/ 34卷
/ 03期
关键词
:
D O I
:
10.1109/T-ED.1987.22962
中图分类号
:
TM [电工技术];
TN [电子技术、通信技术];
学科分类号
:
0808 ;
0809 ;
摘要
:
引用
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[11]
A DIRECT MEASUREMENT OF INTERFACIAL CONTACT RESISTANCE
PROCTOR, SJ
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PROCTOR, SJ
LINHOLM, LW
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LINHOLM, LW
[J].
ELECTRON DEVICE LETTERS,
1982,
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A DIRECT MEASUREMENT OF INTERFACIAL CONTACT RESISTANCE
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1982,
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