CAPACITANCE-VOLTAGE CHARACTERISTICS OF SEMICONDUCTOR-INSULATOR-SEMICONDUCTOR (SIS) STRUCTURE

被引：30

作者：

NAGAI, K

SEKIGAWA, T

HAYASHI, Y

机构：

来源：

关键词：

D O I：

10.1016/0038-1101(85)90066-8

中图分类号：

TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];

学科分类号：

0808 ; 0809 ;

摘要：

引用

页码：789 / 798

页数：10

共 5 条

[1]

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