INSTRUMENTATION FOR SURFACE STUDIES - XPS ANGULAR-DISTRIBUTIONS

被引：134

作者：

FADLEY, CS ^{[1
]}

机构：

[1] UNIV HAWAII,DEPT CHEM,HONOLULU,HI 96822

来源：

关键词：

D O I：

10.1016/0368-2048(74)85048-6

中图分类号：

O433 [光谱学];

学科分类号：

0703 ; 070302 ;

摘要：

引用

页码：725 / 754

页数：30

共 17 条

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