CHARACTERIZATION OF THIN-FILMS OF BISMUTH OXIDE BY X-RAY PHOTO-ELECTRON SPECTROSCOPY

被引：218

作者：

DHARMADHIKARI, VS ^{[1
]}

SAINKAR, SR ^{[1
]}

BADRINARAYAN, S ^{[1
]}

GOSWAMI, A ^{[1
]}

机构：

[1] NATL CHEM LAB,POONA 411008,MAHARASHTRA,INDIA

来源：

关键词：

D O I：

10.1016/0368-2048(82)85016-0

中图分类号：

O433 [光谱学];

学科分类号：

0703 ; 070302 ;

摘要：

引用

页码：181 / 189

页数：9

共 34 条

SHARMA, SP ;

THOMAS, JH .

[32]

SOMILETOV SA, 1955, ZH TEKH FIZ, V25, P2336

TOMPKINS, HG ;

WERTHEIM, GK ;

SHARMA, SP .

JOURNAL OF VACUUM SCIENCE & TECHNOLOGY, 1978, 15 (01) :20-23

[34]

ZAVYALOVA AA, 1965, SOV PHYS-CRYSTALLOGR, V10, P401