A SIMPLE METHOD OF MEASURING THE THICKNESS OF SEMITHIN AND ULTRA-THIN SECTIONS

被引：16

作者：

BEDI, KS

机构：

来源：

JOURNAL OF MICROSCOPY-OXFORD | 1987年 / 148卷

关键词：

D O I：

10.1111/j.1365-2818.1987.tb02858.x

中图分类号：

TH742 [显微镜];

学科分类号：

摘要：

引用

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页码：107 / 111

页数：5

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共 12 条

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