STRESS GENERATION BY ELECTROMIGRATION

被引：406

作者：

BLECH, IA ^{[1
]}

HERRING, C ^{[1
]}

机构：

[1] BELL TEL LABS INC,MURRAY HILL,NJ 07974

来源：

APPLIED PHYSICS LETTERS | 1976年 / 29卷 / 03期

关键词：

D O I：

10.1063/1.89024

中图分类号：

O59 [应用物理学];

学科分类号：

摘要：

引用

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页码：131 / 133

页数：3

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共 11 条

[11] CURRENT-INDUCED MASS TRANSPORT IN ALUMINUM [J].

PENNEY, RV .

JOURNAL OF PHYSICS AND CHEMISTRY OF SOLIDS, 1964, 25 (03) :335-&